Anskaffelse av Scanning probe microscope

Forskergruppen for uorganiske materialer og keramikk ved Institutt for materialteknologi på ntnu skal anskaffe en datastyrt høyoppløselig scanning probe mikroskop (scanning probe microscope - spm). Vi planlegger å anskaffe en topp moderne datastyrt spm inkludert kontroller og programvare. Systemet vil bli brukt for å studere elektroniske og magnetiske nanoskala egenskaper av funksjonelle oksider og, foruten å gi atom oppløsning i afm-modus, bør støtte avanserte målinger moduser inkludert, men ikke begrenset til, cAFM, pfm, afm, kpfm, og efm (se vedlegg 1 for ytterligere detaljer). Den planlagte forskningen krever muligheten til å utføre slike målinger på sub-romtemperatur og under variable atmosfærer og anvendt magnetiske felt. Systemet skal videre fremvise fulle fleksibilitet for å gjennomføre ytterligere spesialdesignede spm eksperimenter. Til dette formålet ønsker vi å invitere leverandører i fra velrenommerte spm produsenter. Leverandører som leverer tilbud, bør være i stand til å levere etterspurte utstyr senest 30 september 2016. For ytterligere informasjon om anskaffelsen, vennligst oppdragsgivers kravspesifikasjon (bilag 1).