Environmental Atomic Force Microscope

Vi planlegger å anskaffe et state-of-the art spm instrument, inkludert programvare og drivere. Systemet vil bli brukt for å studere de elektroniske nanoskala egenskapene til funksjonelle oksider ved høye temperaturer i en kontrollert atmosfære. i tillegg til nanoskala oppløsning av topografiske egenskaper i afm-modus vil instrumentet gi mulighet til å kartlegge et vidt spektrum av elektroniske egenskaper ved bruk av avanserte teknikker som f. Eks. cafm, pfm, mfm, kpfm, og efm blant flere (see appendiks 1 for detaljer).