GD MS

Vi ønsker å bruke utstyret/instrumentet til å utføre kvantitativ kjemisk analyse av ulike materialer. Vi tar sikte hovedsak på "solid state" prøver, og den kjemiske analysen skal gi nivåene et bredt spekter av elementer til stede både som hovedurenheter og sporstoffer Vi har erfaring i å bruke gdms for sporstoffanalyser i silisium til solceller, og vi ønsker å utforske mulighetene for å analysere andre typer materialer, både ledende og ikke-ledende. Anskaffelsen er ikke utelukkende begrenset til de gdms teknikker, men det er viktig at utstyret gjør det mulig å utføre både kvalitativ og kvantitativ analyse av (men ikke utelukkende): -bulk kjemisk konsentrasjon (og om mulig dybde profil konsentrasjon) av urenheter i halvledere silisium til solcelle applikasjoner-bulk kjemisk konsentrasjon (og om mulig dybdeprofilen konsentrasjon) av urenheter i Al og andre metalliske legeringer-bulk kjemisk konsentrasjon (og om mulig dybdeprofilen konsentrasjon) av urenheter i ikke-ledende materialer, slik som SiO2 og Si3N4ViktigNår det gjelder vårt krav 25 (se vedlegg 1), må leverandøren kontakte kjøperen via nettportalen innen rimelig tid for at kjøperen å sende de beskrevne materialer for testing. Testresultatene vil være en del av (info fjernet) ytterligere krav til objektiv, kan du se den tekniske spesifikasjonen i vedlegg 1 (se vedlegg).